IC芯片的检测分为很多种,X-RAY检测是其中非常重要的一种检测,由于IC芯片比较精密主要由微型电子器件或部件构成。采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构;其中所有元件在结构上已组成一个整体,使电子元件向着微小型化、低功耗和高可靠性方面迈进了一大步。但越精密的电路,检测难度就越复杂。
X-RAY检测设备主要依靠内部X光管发射X射线照射IC芯片成像,且X射线具备感光作用。X射线同可见光一样能使胶片感光。胶片感光的强弱与X射线量成正比,当X射线通过IC芯片时,因芯片各组织的密度不同,对X射线量的吸收不同,胶片上所获得的感光度不同,从而获得X射线的影像。
作为市场上使用最广泛的产品,可以想象IC芯片质量的重要性。面对市场上具有非常逼真的形状但内部结构有缺陷的IC芯片,显然不可能肉眼检测通过。区别在于,只有在对X射线检查设备进行精确,高效的检测之后,才能对这些缺陷进行很好的检测,从而保护IC芯片的质量。
为了满足要求,新的无损检测技术不断创新。自动X射线无损检测技术的应用是其中的佼佼者。它不仅可以检查不可见的锡点(例如BGA),还可以定性分析检查结果。进行定量分析,容易及早发现问题。因此,更多的公司需要X-RAY测试设备来提高产品质量。
X射线无损检测技术具有明显的特点:基于对各种无损检测技术和设备的了解,X射线无损检测技术比其他无损检测技术具有更多的优势。它可以使每个人的检测系统得到更高的提升。为每个人提供合理的检查方法,以提高“一次性合格率”,努力实现“零缺陷”的目标。